東英測繪——RTK測量中影響基線解算結果的原因是什么？

RTK測量定位是一種空間三角測量，它是利用RTK與GPS衛(wèi)星間是多個（若干）幾何距離來確定點的坐標以及點和點之間的坐標差。RTK與地面三角測量比較類似，這些幾何距離的質量、數(shù)量以及分布這些是決定所得成果質量的關鍵因素。同時，采用不同的數(shù)字模型以及算法，對所得結果質量也有非常重要的影響。基線解算結果的質量取決于觀測值質量、 觀測幾何條件、衛(wèi)星軌道數(shù)據(jù)質量和數(shù)據(jù)處理模型和方法四方面因素。

觀測值質量在觀測值的精度、采樣率、周跳發(fā)生的頻度、受到包括多路徑在內的干擾效應影響的程度等幾個方面。對于基線的解算結果質量，觀測值采樣率的影響很小，但采樣率高的觀測數(shù)據(jù)就更有利于周跳的探測，周跳發(fā)生頻度的高低影響某些周跳探測以及處理算法的效能。

觀測幾何條件是指在整個的同步觀測的這個時段中，衛(wèi)星的數(shù)量以及分布和星座的變化這些因素。衛(wèi)星的數(shù)量越多分布得越均勻，星座變化越大，觀測條件越好。這些因素取決于進行觀測的時間以及時段的長度。

衛(wèi)星的軌道數(shù)據(jù)質量指的是根據(jù)衛(wèi)星軌道數(shù)據(jù)所計算出的衛(wèi)星位置與衛(wèi)星的真實位置之間差異的大小。差異越小質量就越高。

數(shù)據(jù)處理模型和方法包括數(shù)學模型和算法等多個方面。在數(shù)學模型方面，包括了函數(shù)模型和隨機模型的優(yōu)劣。函數(shù)模型的優(yōu)劣主要取決于是否能正確處理RTK測量中的幾何關系和偏差；而隨機模型的優(yōu)劣則取決于能否正確反映觀測值和先驗約束條件的真實統(tǒng)計特性。在算法方面，包含了周跳探測與處理、模糊度確定等算法效能的高低以及解的穩(wěn)定性等。

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