靜態(tài)數(shù)據(jù)處理中不合格基線和閉合環(huán)的處理RTK控制測(cè)量分為外業(yè)靜態(tài)機(jī)采集數(shù)據(jù)和內(nèi)業(yè)數(shù)據(jù)處理兩個(gè)部分,外業(yè)采集通常要考慮外部環(huán)境好的條件,這樣采集到的數(shù)據(jù)質(zhì)量有保證,但是也不排除條件不好的情況,比如有遮擋或者多路勁效應(yīng)等等,采集的數(shù)據(jù)會(huì)有誤差,這樣的數(shù)據(jù)內(nèi)業(yè)處理會(huì)有一定的問題,比如基線不合格,閉合環(huán)誤差過大。我們可以通過軟件的設(shè)置等等方法來解決這些問題。 搜索閉合環(huán) 在【測(cè)量】選項(xiàng)下有個(gè)【搜索重復(fù)基線與閉合環(huán)】菜單,點(diǎn)擊后會(huì)出現(xiàn)閉合環(huán)邊數(shù)的 設(shè)置窗口,如下圖。閉合環(huán)的最小邊數(shù)為3,最大為15,默認(rèn)都為 3。可根據(jù)實(shí)際需求適當(dāng)設(shè)置邊數(shù),當(dāng)測(cè)站數(shù)量,基線數(shù)量較多時(shí),建議將邊數(shù)適當(dāng)調(diào)小。設(shè)置完點(diǎn)確定后,開始搜索閉合環(huán)與重復(fù)基線。 處理不合格的基線 在工程管理區(qū)中選中解算不合格的基線,可查看相應(yīng)基線的解算報(bào)告。選中基線后,屬性管理器中會(huì)顯示相應(yīng)基線的解算參數(shù),通過修改解算參數(shù)(采樣間隔、高度截止角、 解算類型)、根據(jù)殘差圖再次剔除不合格的數(shù)據(jù),重新解算,可使大部分的基線解算合格。 2.1 解算參數(shù)的修改 (1)采樣間隔的選取 采樣間隔的大小決定了參與解算的歷元的多少,采樣間隔越小,參與解算的歷元越多,采樣間隔越大,參與解算的歷元越多。因?yàn)榛€越長(zhǎng),所需的觀測(cè)時(shí)間也越長(zhǎng),所以采樣間隔的選取一般依據(jù)以下三個(gè)原則。 ①基線同步觀測(cè)時(shí)間較短時(shí),可縮小采樣間隔,讓更多的數(shù)據(jù)參與解算; ②同步觀測(cè)時(shí)間較長(zhǎng)時(shí),要增加歷元間隔,讓更少的數(shù)據(jù)參與解算; ③數(shù)據(jù)周跳較多時(shí),要增加采樣間隔,這樣可跳過中斷的數(shù)據(jù)繼續(xù)解算。 (2)高度截止角的選取 當(dāng)高度截止角較低時(shí),參與解算的衛(wèi)星數(shù)目多,但低空衛(wèi)星數(shù)據(jù)通訊容易被外界干擾,低空衛(wèi)星質(zhì)量差的數(shù)據(jù)較多;當(dāng)高度截止角較高時(shí),參與解算的衛(wèi)星數(shù)目少,但高空衛(wèi)星數(shù)據(jù)通訊不容易被外界干擾,高空衛(wèi)星質(zhì)量好的數(shù)據(jù)較多;然而高度截至角過高會(huì)導(dǎo)致衛(wèi)星星座圖形的幾何分布狀況不佳,定位解算精度反而下降。高度截止角的選取遵循以下兩個(gè)原則: ①當(dāng)基線詳解中查看到的衛(wèi)星數(shù)目足夠多,適當(dāng)增加高度截止角,盡量讓高空衛(wèi)星數(shù)據(jù)進(jìn)入解算; ②當(dāng)基線詳解中查看到衛(wèi)星數(shù)目比較少時(shí)(最低解算要求4顆以上衛(wèi)星),適當(dāng)降低高度截止角,盡量讓多一些衛(wèi)星數(shù)據(jù)進(jìn)入解算; ③高度截至角不宜過高。 (3)解算類型的選取 根據(jù)波段的接收情況選取。 2.2 通過殘差分析篩選數(shù)據(jù) 所謂殘差圖就是根據(jù)觀測(cè)值的殘差繪制的一種圖表。根據(jù)殘差分析圖,可判斷影響基線解算結(jié)果的數(shù)據(jù)(質(zhì)量不好的數(shù)據(jù)),存在于哪顆衛(wèi)星或時(shí)間段上。鼠標(biāo)左鍵選中不合格的基線,單擊右鍵,選擇殘差分析,即可進(jìn)入殘差分析界面。殘差分析圖,如下圖所示。 上圖是 GPS 衛(wèi)星 06 的殘差圖。殘差分析圖是一種正態(tài)分布圖,其期望應(yīng)在橫軸附近,大致受隨機(jī)噪聲與其他因素誤差影響而波動(dòng),其橫軸表示數(shù)據(jù)采集時(shí)間,縱軸表示觀測(cè)值的殘差。殘差偏大,說明信號(hào)傳播過程中受到的各方面誤差影響較大,主要包含多路徑效應(yīng)、對(duì)流層或電離層折射影響等因素,如果殘差圖發(fā)生跳躍性的變化,說明觀測(cè)中還存在周跳因素。可以對(duì)不合格的數(shù)據(jù)進(jìn)行剔除,或取不同解算參數(shù)的手段進(jìn)行精化處理。在使用剔除不合格的數(shù)據(jù)、反復(fù)組合高度截止角、采樣間隔、解算類型等手段后仍不 能使基線解算合格的情況下,可刪除該條基線(獨(dú)立基線除外,且刪除的基線條數(shù)不能大于總基線的 1/10)。若基線無法刪除,需重測(cè)。 處理不合格的閉合環(huán) 待基線解算合格后,點(diǎn)擊工具欄中的【閉合環(huán)列表】,檢查閉合環(huán)的閉合情況,閉合環(huán)列表界面下圖所示: 閉合差如果超限,需根據(jù)基線解算以及閉合差計(jì)算的具體情況,對(duì)一些基線進(jìn)行重新解算。具有多次觀測(cè)基線的情況下可以不使用或者刪除該基線。當(dāng)出現(xiàn)孤點(diǎn)(即該點(diǎn)僅有一條合格基線相連)的情況下,必須重測(cè)該基線或者閉合環(huán)。 |